0402 紅外分光光度法

發(fā)表時(shí)間:2021-06-08 00:02作者:儀工科技


點(diǎn)擊上面“藍(lán)字”關(guān)注我們


0402 紅外分光光度法
紅外分光光度法是在4000~400cm-1波數(shù)范圍內(nèi)測(cè)定物質(zhì)的吸收光譜,用于化合物的鑒別、檢查或含量測(cè)定的方法。除部分光學(xué)異構(gòu)體及長(zhǎng)鏈烷烴同系物外,幾乎沒(méi)有兩個(gè)化合物具有相同的紅外光譜,據(jù)此可以對(duì)化合物進(jìn)行定性和結(jié)構(gòu)分析;化合物對(duì)紅外輻射的吸收程度與其濃度的關(guān)系符合朗伯-比爾定律,是紅外分光光度法定量分析的依據(jù)。
儀器及其校正
可使用傅里葉變換紅外光譜儀或色散型紅外分光光計(jì)。用聚苯乙烯薄膜(厚度約為0.04mm)校正儀器,繪制其光譜圖,用3027cm-1,2851cm-1,1601cm-1,1028cm-1,907cm-1處的吸收峰對(duì)儀器的波數(shù)進(jìn)行校正。傅里葉變換紅外光譜儀在3000cm-1附近的波數(shù)誤差應(yīng)不大于±5cm-1,在1000cm-1附近的波數(shù)誤差應(yīng)不大于±lcm-1
用聚苯乙烯薄膜校正時(shí),儀器的分辨率要求在3110~2850cm-1范圍內(nèi)應(yīng)能清晰地分辨出7個(gè)峰,峰2851cm-1與谷2870cm-1之間的分辨深度不小于18%透光率,峰1583cm-1與谷l589cm-1之間的分辨深度不小于12%透光率。儀器的標(biāo)稱分辨率,除另有規(guī)定外,應(yīng)不低于2cm-1。
供試品的制備及測(cè)定
通常采用壓片法、糊法、膜法、溶液法和氣體吸收法等進(jìn)行測(cè)定。對(duì)于吸收特別強(qiáng)烈、或不透明表面上的覆蓋物等供試品,可采用如衰減全反射、漫反射和發(fā)射等紅外光譜方法。對(duì)于極微量或需微區(qū)分析的供試品,可采用顯微紅外光譜方法測(cè)定。
1.原料藥鑒別 除另有規(guī)定外,應(yīng)按照國(guó)家藥典委員會(huì)編訂的《藥品紅外光譜集》各卷收載的各光譜圖所規(guī)定的方法制備樣品。具體操作技術(shù)參見(jiàn)《藥品紅外光譜集》的說(shuō)明。
采用固體制樣技術(shù)時(shí),最常碰到的問(wèn)題是多晶現(xiàn)象,固體樣品的晶型不同,其紅外光譜往往也會(huì)產(chǎn)生差異。當(dāng)供試品的實(shí)測(cè)光譜與《藥品紅外光譜集》所收載的標(biāo)準(zhǔn)光譜不一致時(shí),在排除各種可能影響光譜的外在或人為因素后,應(yīng)按該藥品光譜圖中備注的方法或各品種項(xiàng)下規(guī)定的方法進(jìn)行預(yù)處理,再繪制光譜,比對(duì)。如未規(guī)定該品種供藥用的晶型或預(yù)處理方法,則可使用對(duì)照品,并采用適當(dāng)?shù)娜軇?duì)供試品與對(duì)照品在相同的條件下同時(shí)進(jìn)行重結(jié)晶,然后依法繪制光譜,比對(duì)。如已規(guī)定特定的藥用晶型,則應(yīng)采用相應(yīng)晶型的對(duì)照品依法比對(duì)。
當(dāng)采用固體制樣技術(shù)不能滿足鑒別需要時(shí),可改用溶液法繪制光譜后與對(duì)照品在相同條件下繪制的光譜進(jìn)行比對(duì)。
2.制劑鑒別 品種鑒別項(xiàng)下應(yīng)明確規(guī)定制劑的前處理方法,通常采用溶劑提取法。提取時(shí)應(yīng)選擇適宜的溶劑,以盡可能減少輔料的干擾,避免導(dǎo)致可能的晶型轉(zhuǎn)變。提取的樣品再經(jīng)適當(dāng)干燥后依法進(jìn)行紅外光譜鑒別。
3.多組分原料藥鑒別 不能采用全光譜比對(duì),可借鑒【附注】“2(3)”的方法,選擇主要成分的若干個(gè)特征譜帶,用于組成相對(duì)穩(wěn)定的多組分原料藥的鑒別。
4.晶型、異構(gòu)體限度檢查或含量測(cè)定 供試品制備和具體測(cè)定方法均按各品種項(xiàng)下有關(guān)規(guī)定操作。
【附注】
1.各品種項(xiàng)下規(guī)定“應(yīng)與對(duì)照的圖譜(光譜集XX圖)一致”,系指《藥品紅外光譜集》各卷所載的圖譜。同一化合物的圖譜若在不同卷上均有收載時(shí),則以后卷所載的圖譜為準(zhǔn)。
2.藥物制劑經(jīng)提取處理并依法繪制光譜,比對(duì)時(shí)應(yīng)注意以下四種情況:
(1)輔料無(wú)干擾,待測(cè)成分的晶型不變化,此時(shí)可直接與原料藥的標(biāo)準(zhǔn)光譜進(jìn)行比對(duì);
(2)輔料無(wú)干擾,但待測(cè)成分的晶型有變化,此種情況可用對(duì)照品經(jīng)同法處理后的光譜比對(duì);
(3)待測(cè)成分的晶型無(wú)變化,而輔料存在不同程度的干擾,此時(shí)可參照原料藥的標(biāo)準(zhǔn)光譜,在指紋區(qū)內(nèi)選擇3~5個(gè)不受輔料干擾的待測(cè)成分的特征譜帶作為鑒別的依據(jù)。鑒別時(shí),實(shí)測(cè)譜帶的波數(shù)誤差應(yīng)小于規(guī)定值的±5cm-1(0.5%);
(4)待測(cè)成分的晶型有變化,輔料也存在干擾,此種情況一般不宜采用紅外光譜鑒別。
3.由于各種型號(hào)的儀器性能不同,供試品制備時(shí)研磨程度的差異或吸水程度不同等原因,均會(huì)影響光譜的形狀。因此,進(jìn)行光譜比對(duì)時(shí),應(yīng)考慮各種因素可能造成的影響。


服務(wù)電話:0532-68061116 服務(wù)微信:18661608990 聯(lián)系郵箱:egon@egon.cn
聯(lián)系我們: 0532-68061116
登錄
登錄
其他賬號(hào)登錄:
留言
回到頂部